产品概述：

该系统用于测试空间单光子探测器产品的暗计数率DCR、光子探测效率PDE、串扰、响应度。可根据需求定制高低温测试模块用于测试空间单光子探测器产品的击穿电压温度稳定性、光电参数温度稳定性等。该系统的主要模块为可调衰减光源模块、同轴显微监测模块、样品位移模块、参数测试模块、软件控制模块、高低温模块（需定制）、可调电压模块（需定制）。

产品特点：

1) 无接触测试，测试光路与显微观察光路同光轴；

2) 光学暗室，屏蔽杂散光；

3) 高精度可调光功率模块，实现不同波段光功率精确调节；

4) 聚焦光斑直径≤15μm；

5) 显微放大倍率可调；

6) 样品位移模块可抽拉设计，方便更换样品；

产品应用：

可进行暗计数率DCR测试、光子探测效率PDE测试、串扰/响应度测试、光功率实时监控/可调、测试光路与显微观察光路同光轴等应用。

技术参数：