全国咨询热线

152-6145-9548

188-0514-3840

南京谛煌信息技术有限公司

Nanjing Dihuang Information Technology Co., Ltd.


简体中文 English 繁體中文

专注于光电半导体器件测试和封装设备的

研发与制造

  
四象限探测器测试仪 OTES-QD
    发布时间: 2023-06-19 13:22    
四象限探测器测试仪 OTES-QD

产品概述：

四象限探测器测试仪（OTES-QD）为满足高精度光电探测器件性能参数测试而设计，具有功率检测和探测器像敏面监控等功能。待测器件能够便捷可靠的固定在测试台上，测试过程中可以对激光功率进行实时监控。同时，测试台集成有便于图像观察的相机，可以清晰观察到待测样品表面和激光光斑。


产品应用：

本测试仪可进行最大增益响应度差测试/通道串扰测试/衰减倍数测试（包括增益调整衰减功能测试，偏置衰减功能测试）/灵敏度阈值测试/动态范围测试/通道一致性误差测试/功耗电流测试等。

它能够广泛应用于光电二极管检测，科学研究以及产品测试等领域。


技术参数：

表1-6  四象限探测器测试仪（OTES-QD）技术参数

光源部分


最小值

典型值

最大值

备注

中心波长（nW）


1064.24



峰值光功率（W）


1


50ns/10KHz

FWHM（nm）

-

1.24



脉冲宽度（ns）


50


-

脉冲重复频率（KHz）

0.1

-

1000

内触发

输出光隔离度（dB）

-

34

-

-

回波损耗（dB）

-

55

-

-

光功率稳定性（%）



0.01

25℃

全温光功率稳定性（%）

-

-

0.03

-15℃~+55℃

衰减部分

调节范围（dB）

0~80

调节精度（dB）

0.1

光功率探测部分

波长范围（nW）

350~1100

功率范围（pW/mW）

100pW~5mW

分辨率（pW）

10

出光部分

聚焦光斑直径（mm）

0.1~0.5


产品中心

PRODUCT CENTER

24小时服务电话：

188-05143840

  

24小时服务电话：

152-6145-9548

188-0514-3840

上班时间：

周一至周五   08：30-17：30

上班时间：

周一至周五   08：30-17：30

联系我们
联系我们