产品概述:
晶圆探针测试是集成电路生产中的重要一环,目的是节约电子器件生产成本。图像传感器晶圆级测试仪(Photo-PRO)使用半自动探针台,通过针卡将电子学与检测晶圆连通,先做电学直流检测,再做感光成像检测。测试晶粒的结果分为良品BIN1或不良BIN2-BIN5,最后通过MAP图便捷呈现给用户查看。
产品特点与应用:
1) 电子学添加诸多保护、抗干扰措施,在直流检测时挑选出异常的晶粒;
2) 成像感光测试:将靶标图案投影到晶粒感光面,电子学驱动成像后人为判断晶粒的优劣。
技术参数:
表2-5 图像传感器晶圆级测试仪(Photo-PRO)技术参数 |
外形(长×宽×高) | 1500mm ×1000mm ×1600mm(含报警灯、显示器) |
重量 | 550kg |
工作温度 | 20℃~25℃ |
导出报表类型 | EXCEL |
工作行程 | X轴180mm,Y轴220mm,Z轴5mm,θ轴±15° |
X、Y、Z定位精度/ θ精度 | ±5μm/±0.0015° |
Z平台平面度 | ≤15μm |
晶圆测试尺寸 | 3~6” |
显微镜 | 光学倍率 | 0.6~7.2× |
工作距离 | 35mm |
光机 | 工作距离 | 45mm |
光斑尺寸 | Φ33mm |
靶标类型 | 刀口靶 |
国标分辨率A1#板 |