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南京谛煌信息技术有限公司成功发售全新光电探测器测试系统OTES-Chip,引领行业技术创新
来源: | 作者:南京谛煌信息技术有限公司 | 发布时间: 897天前 | 314 次浏览 | 🔊 点击朗读正文 ❚❚ | 分享到:
南京谛煌信息技术有限公司非常荣幸地宣布,我们最新推出的光电探测器测试系统OTES-Chip已经正式发售,并迅速成为了行业内的瞩目焦点。


2023-10-23



南京谛煌信息技术有限公司非常荣幸地宣布,我们最新推出的光电探测器测试系统OTES-Chip已经正式发售,并迅速成为了行业内的瞩目焦点。这款创新设计的测试系统旨在满足高精度光电探测器件性能参数设计,并提供全面的测试功能。 OTES-Chip的设计理念是以实现高精度光电探测器件性能参数为核心,通过该系统,用户可以对激光功率进行实时监控。同时,系统还集成了视频监控相机,能够清晰监控待测样品平面和激光光斑,提供准确的视觉检测功能。


 


该系统主要由以下几个关键组成部分构成:

  • 三同轴显微镜:提供高清晰度的观察视野,帮助用户对器件进行细致观察和检测。

  • XY轴二维电动位移台(器件承载台):用于定位和调整待测样品的位置,确保测试的准确性和稳定性。

  • 显微镜电动升降台:通过电动升降功能,可以灵活调整显微镜的高度,以适应不同样品的测试需求。

  • 光学暗室:提供良好的环境隔离和光线控制,保证测试的精确性和稳定性。


OTES-Chip的问世标志着谛煌在光电探测器测试领域迈出了重要的一步。该系统的出色性能和创新功能将极大地促进光电器件研究和生产过程中的效率和精度。谛煌将继续致力于推动科技创新,为客户提供更加先进和可靠的测试设备和解决方案。我们期待与各界合作伙伴共同探索光电探测器领域的未来发展。


如欲了解更多关于OTES-Chip的信息,请访问我们的官方网站或联系我们的客户服务团队!

 

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